万用表

泰克Keithley SourceMeter® 光仪器

泰克Keithley SourceMeter® 光仪器通过 Keithley 仪器,可以轻松构建 LIV(光功率-电流-电压)系统,从而经济高效地测试激光二极管模块。光纤对准光电二极管仪表 2502 :高速模拟输出使得可在光纤对准工作台执行 LIV 测试。带可选积分球 2520/KIT1 的脉冲激光二极管测试系统 :同步测试系统,为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。 注:此产品无法发货

  • 售后服务:
  • 硬盘容量:
  • 内存容量:
  • 型号: 2510&2510-AT&2502&2520

泰克Keithley SourceMeter® 光仪器

通过 Keithley 仪器,可以轻松构建 LIV(光功率-电流-电压)系统,从而经济高效地测试激光二极管模块。

  • 光纤对准光电二极管仪表 2502 :高速模拟输出使得可在光纤对准工作台执行 LIV 测试。

  • 带可选积分球 2520/KIT1 的脉冲激光二极管测试系统 :同步测试系统,为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。 
    注:此产品无法发货到欧盟国家。 详细信息 。

  • TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT :确保通过控制其热电冷却器,为激光二极管模块提供严格的温度控制。

特点

优势

主动温度控制防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化,导致出现信号重叠和串扰问题。
50W TEC 控制器比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。
全数字 P-I-D 控制提供更高的温度稳定性,并可通过简单的固件变化轻松升级。
适用于热控制环路的自动调谐功能 (2510-AT)无需反复试验即可确定 P、I 和 D 系数的最佳组合。
宽温度设定值范围(–50°C 至 +225°C)以及高设定值分辨率 (±0.001°C) 和稳定性 (±0.005°C)能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。
兼容于多种温度传感器输入 — 热敏电阻、RTD 和 IC 传感器适合最常用于各类激光二极管模块的温度传感器类型。
交流欧姆测量功能验证 TEC 器件的完整性。
适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测消除引线电阻测量值误差,减少假故障或设备损坏的可能性。


泰克Keithley SourceMeter® 光仪器

首页
产品
新闻
联系